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            維修Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

            Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于*部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺表面,可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。

            作為測量儀器,該掃描儀是當(dāng)今**上測量二維工件的二維掃描儀).

            主要特點:
            ◆ 高速的矩陣式掃描系統(tǒng),適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的二維測量
            ◆ 工業(yè)圖像處理系統(tǒng),掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
            ◆ 被測工件可任意位置放置
            ◆ 模塊化的測量軟件
            ◆ 利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
            ◆ 快捷方便的WinWerth評估軟件
            ◆ WinWerth軟件CAD在線和公差擬合測量
            ◆ 平面光源
            ◆ 精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定  
             
            技術(shù)參數(shù):
            測量范圍(玻璃工作臺 尺寸):
            X = 400/650mm
            Y = 200/400/600mm
            工件高度:Z = 100mm
            光柵尺分辨率:0.1μm

            測量機(jī)允許誤差:

            變焦:
            1)E1: (2.5+L/120) μm
             E2: (2.9+L/100) μm

            固定鏡頭 0.4x:
            2)E1: (4.9+L/100) μm
             E2: (4.9+L/75) μm

            固定鏡頭 0.2x:
            2)E1: (9+L/100) μm
             E2: (9+L/75) μm

            1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度 Δ=1度/h
            依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617
             

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